半导体器件可靠性与失效分析 - 暨南大学图书馆_大拱桥--暨南大学学生门户

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大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » | 08 环境公报 » 半导体器件可靠性与失效分析

	名称	半导体器件可靠性与失效分析

	索引号	110172
	分类号	(\| 08 环境公报)
	作者	卢其庆、张安康、
	出版社	南京 : 江苏科学技术出版社, 1981
	ISBN
	页数	278页 ; 25cm
	价格	CNY1.70
	标签
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