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名称 | 材料分析测试技术 : 材料X射线衍射与电子显微分析 |
| 索引号 | 609394 | |
| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | 周玉、武高辉、 | |
| 出版社 | 哈尔滨 : 哈尔滨工业大学出版社, 1998 | |
| ISBN | 7-5603-1338-8 | |
| 页数 | 283页 ; 26cm | |
| 价格 | CNY19.80 | |
| 标签 | 材料分析、x射线、材料分析测、电子衍射、材料学、专业、中国、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | ||
书籍简介
《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法,并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。











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