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名称 SoC设计与测试 : design and test
索引号 615818
分类号
(| 08 环境公报)
作者 拉伊什乌曼、 R.、于敦山、盛世敏、田泽、
出版社 北京 : 北京航空航天出版社, 2003
ISBN 7-81077-308-9
页数 210页 : 肖像, 图 ; 26cm
价格 CNY35.00
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简介
注解 由美国Advantest America R & D Center, Inc.公司授权出版・ 责任者规范汉译姓: 拉伊什乌曼 有书目・ 本书分为设计和测试两个部分，分别介绍Đ₅Đ̐Đ©的设计方法和测试方法・书中设计部分，介绍Đ₅Đ̐Đ©设计会遇到的问题，与传统的ĐℓĐ₅Đ⁹Đ©设计流程的差别，逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及Đ₅Đ̐Đ©系统的验证方法；在测试部分，介绍Đ₅Đ₁Đ©中逻辑核、存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍Đ⁹Đ̃Đ̃Đ̜测试在Đ₅Đ̐Đ©测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题・
书籍简介

《SoC设计与测试》分别介绍了SoC的设计方法和测试方法。并介绍了逻辑核、存储器核及其模拟核的设计方法和需要注意的问题。