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名称 | 可靠性物理 |
| 索引号 | TN6/20053 | |
| 分类号 | TN6 TN6(电子元件、组件) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 姚立真、 | |
| 出版社 | 北京 : 电子工业出版社, 2004 | |
| ISBN | 7-121-00209-4 | |
| 页数 | xxi, 669页 : 图 ; 23cm | |
| 价格 | CNY88.00 | |
| 标签 | 微电子、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 (第668-669页) 本书较为全面、系统地论述并介绍了电子元器件可靠性物理的基础知识和失效分析技术・ 从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、质量与可靠性工作的技术人员和管理人员・ | |
书籍简介
《可靠性物理》分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础;论述了失效的物理模型;介绍了元器件静电放电失效的原理和防护,元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。











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