| 名称 | Computed electron micrographs and defect identification | |
| 索引号 | O483/E803 | |
| 分类号 | O483 O483(固体缺陷) O48(固体物理学) O4(物理学) O(数理科学和化学) |
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| 作者 | ||
| 出版社 | London: Amsterdam, North-Holland Pub. Co., 1973. | |
| ISBN | ||
| 页数 | x, 400 p. with illus. 23 cm. | |
| 价格 | ||
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| 简介 | ||
| 注解 | ||
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