Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979

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	名称	Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979

	索引号	O64-51/E8022
	分类号	O64-51 O64(物理化学(理论化学),化学物理学) O6(化学) O(数理科学和化学)
	作者	International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (2nd : 1979 : Stanford University).、Benninghoven、 A.、
	出版社	New York : Springer-Verlag, 1979.
	ISBN
	页数	xiii, 298 p. : ill. ; 24 cm.
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