| 名称 | Semiconductor measurements and instrumentation | |
| 索引号 | TN307/E801 | |
| 分类号 | TN307 TN307(测量和检验) TN30(一般性问题) TN3(半导体技术) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | Runyan、 W. R.、 | |
| 出版社 | New York : McGraw-Hill, [1975] | |
| ISBN | ||
| 页数 | vii, 280 p. : ill. ; 26 cm. | |
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| 简介 | ||
| 注解 | ||
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