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名称 Hybrid microcircuit reliability data
索引号 TN406/E801
分类号 TN406
TN406(可靠性及例行试验)
TN40(一般性问题)
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 IIT Research Institute.、Reliability Analysis Center (U.S.)、
出版社 Oxford ; New York : Pergamon Press, 1975, c 1976.
ISBN
页数 208 p. : ill. ; 27 cm.
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简介
注解 "Data for HMRD is collected, verified, and reduced by the Reliability Analysis Center Engineering Staff."