大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 自动检测、仪器、仪表 » Automated testing for electronics manufacturing : ATE Seminar/Exhibit, January 30-February 1, 1978, L. A. Marriott, Los Angeles, CA : proceedings
| 名称 | Automated testing for electronics manufacturing : ATE Seminar/Exhibit, January 30-February 1, 1978, L. A. Marriott, Los Angeles, CA : proceedings | |
| 索引号 | TP216-53/E801/1978 | |
| 分类号 | TP216-53/E801 TP216(自动检测、仪器、仪表) TP21(自动化元件、部件) TP2(自动化技术及设备) TP(自动化技术计算技术技术) T(工业技术) |
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| 作者 | ATE Seminar、 2d、 Los Angeles、 1978.、Circuits manufacturing.、 | |
| 出版社 | [s.l.] : Benwill Pub. Corp., c1978. | |
| ISBN | ||
| 页数 | 142, [56] p. : ill. ; 29 cm. | |
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| 简介 | ||
| 注解 | ||










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