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名称 X射线衍射分析技术
索引号 O657.39/20091
分类号 O657.39
O657.39(其他光学法)
O657.3(光化学分析法(光谱分析法))
O657(仪器分析法(物理及物理化学分析法))
O65(分析化学)
O6(化学)
O(数理科学和化学)
作者 晋勇、孙小松、薛屺、
出版社 北京 : 国防工业出版社, 2008
ISBN 978-7-118-05778-2
页数 Ø̲, 302页 : 图 ; 26cm
价格 CNY39.00
标签 化学、材料、生物、
简介
注解 有书目 (第301-302页) 本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法等。
书籍简介

《X射线衍射分析技术》内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。