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名称 | 材料评价的分析电子显微方法 |
| 索引号 | 600568 | |
| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | 进藤大辅、及川哲夫、刘安生、 | |
| 出版社 | 北京 : 冶金工业出版社, 2001 | |
| ISBN | 7-5024-2735-X | |
| 页数 | 10, 181页 : 图 ; 26cm | |
| 价格 | CNY38.00 | |
| 标签 | 材料、tem、atem、japan、催化、分析、材料学、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 版权页英文题名:Analytical electron microscopy for materials science 有书目和索引 本书全面介绍了各种分析电子显微方法,首先介绍了各种分析电子显微方法的原理和实验技术,如讲解了电子能量损失谱和X 射线能谱分析方法的理论基础、实验技术和谱的解析;讲述了能量过滤方法,比较了各种类型的能量过滤器原理、结构和特点:介绍了确定杂质原子或添加元素原子位置占有率的通道增强微分析方法、纳米束电子衍射等。此外,还详细讲解了电子显微镜和各种分析装置的基本结构、工作原理、基本操作技术和最佳使用条件的设定方法等。 材料科学、生物科学、石油化工、地质学等领域科技人员。 | |
书籍简介
《材料评价的分析电子显微方法》全面介绍了各种分析电子显微方法。对两种最重要的电子显微分析技术——电子能量损失谱和X射线能谱分析方法的理论基础、实验技术、谱的解析,进行了系统的讲解,指出了定量分析时的注意事项。











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