| 名称 | 纳米级CMOS超大规模集成电路可制造性设计 | |
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| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | (美) 坤杜 著、王志华 译、 | |
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2014.04 | |
| ISBN | 978-7-03-040034-5 | |
| 页数 | 262页 ; 26cm | |
| 价格 | CNY58.00 | |
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| 简介 | ||
| 注解 | 本书的内容包括:CMOSVLSI电路设计的技术趋势,半导体制造技术,光刻技术,工艺和器件的扰动和缺陷分析与建模,面向可制造性的物理设计技术,测量、制造缺陷和缺陷提取,缺陷影响的建模和合格率提高技术,物理设计和可靠性,DFM工具和DFM方法。 微电子学、集成电路设计、电路与系统、精密仪器、医疗、汽车电子等专业技术人员、科研和研发人员,高校师生 | |










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