| 名称 | 精密光学元件先进测量与评价 | |
| 索引号 | ||
| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | 程灏波、 | |
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2014 | |
| ISBN | 978-7-03-041717-6 | |
| 页数 | 277页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY85.00 | |
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| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 本书主要针对精密光学元件检测原理与技术进行了全面、详细的介绍,并且追踪了最新的科技前沿技术的原理与应用,紧扣实际应用需求,对检测过程中的关键技术进行了研究。首先对光学元件的质量评价标准做了详细的介绍,包括表面面形误差评价标准、亚表面损伤的评价等。 | |










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