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名称 | 半导体器件物理 |
| 索引号 | TN303/20051 | |
| 分类号 | TN303 TN303(结构、器件) TN30(一般性问题) TN3(半导体技术) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 刘树林、张华曹、柴常春、 | |
| 出版社 | 北京 : 电子工业出版社, 2005 | |
| ISBN | 7-121-00622-7 | |
| 页数 | 334页 : 图 ; 26cm | |
| 价格 | CNY28.00 | |
| 标签 | 教材、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 | |
书籍简介
《半导体器件物理》由浅入深、系统地介绍了常用半导体器件的工作原理和工作特性。为便于读者自学和参考,《半导体器件物理》首先介绍了学习半导体器件必需的半导体材料和半导体物理的基本知识;然后重点论述了PN结、双极性三极管、MOS场效应管和结型场效应管的各项性能指标参数及其与半导体材料参数、工艺参数及器件几何结构参数的关系:最后简要讲述了常用的一些其他半导体器件(如功率MOSFET、IGBT和光电器件)的原理及应用。











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