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名称 Autotestcon '82, October 12-14 : 1982 IEEE International Automatic Testing Conference, Dayton Convention Center, Dayton, Ohio
索引号 TP216-53/E901/1982
分类号 TP216-53/E901
TP216(自动检测、仪器、仪表)
TP21(自动化元件、部件)
TP2(自动化技术及设备)
TP(自动化技术计算技术技术)
T(工业技术)
作者 IEEE International Automatic Testing Conference (1982 : Dayton、 Ohio)、Institute of Electrical and Electronic Engineers.、
出版社 New York, N.Y. (345 E. 47th St., New York 10017) : IEEE, c1982.
ISBN
页数 ix, 590 p. : ill. ; 28 cm.
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简介
注解 "82CH1786-3" Pages 591-592 blank. Includes bibliographical references.