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名称 | 薄膜结构X射线表征 |
| 索引号 | O484.5/20081 | |
| 分类号 | O484.5 O484.5(薄膜测量与分析) O484(薄膜物理学) O48(固体物理学) O4(物理学) O(数理科学和化学) |
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| 作者 | 麦振洪、 | |
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2007 | |
| ISBN | 978-7-03-018994-3 | |
| 页数 | xi, 247页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY40.00 | |
| 标签 | 固体物理、薄膜结构x射线、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 中国科学院科学出版基金资助出版 有书目 本书结合作者二十多年来的工作积累和国内外最新进展，系统介绍了应用X射线衍射和散射技术表征薄膜微结构的多种基本实验装置、实验数据分析理论以及典型的薄膜微结构表征实例。 | |
书籍简介
薄膜结构X射线表征，ISBN：9787030189943，作者：麦振洪、等
粤公网安备 44030602003680号