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名称 光电子器件微波封装和测试
索引号 TN36/20081
分类号 TN36
TN36(半导体光电器件)
TN3(半导体技术)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 祝宁华、
出版社 北京 : 科学出版社, 2007
ISBN 978-7-03-019198-4
页数 xiv, 292页 : 图 ; 24cm
价格 CNY48.00
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简介
注解 中国科学院科学出版基金资助出版 “十一五”国家重点图书出版规划项目 有书目和索引 全书共十一章，内空包括半导体激光器、光调制器和光探测器、三种典型高速光电子器件的微波封装设计、网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法等。
书籍简介

《光电子器件微波封装和测试》重点讨论与光电子器件高速特性相关的芯片测试分析、器件微波封装、高频性能测试、等效电路分析模型、寄生参数的影响及器件封装优化设计等方面问题。对器件封装设计中的光耦合问题和热力学设计问题不作深入的介绍。但当光耦合和热力学设计结构的对器件高频特性有一定影响时，将结合高速光电子器件的微波封装进行综合讨论。