本书集大量的科学数据和国际前沿水平的研究结果于一体,融入了作者十余年的科研积累和经验，详细介绍了适合扫描探针显微术的许多专利性质的方法和关键技术等内容。从扫描探针显微镜(SPM)的原理、操作使用及相关功能应用,到主要配件扫描器的校正；从样品制备、参数的选择、数据处理、结果分析，到相关材料的新结构、新性能的认知、最终结果的确定以及实验技巧等,均做了详细介绍。

本书适用于物理、化学、材料、生物、医药和生命科学等领域的相关科研人员和技术人员参考，同时可作为高校相关专业师生的参考用书。