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名称 | SOC/ASIC设计、验证和测试方法学 |
| 索引号 | TN430.2/20081 | |
| 分类号 | TN430.2 TN43(半导体集成电路(固体电路)) TN4(微电子学、集成电路(IC)) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 沈理、 | |
| 出版社 | 广州 : 中山大学出版社, 2006 | |
| ISBN | 7-306-02682-8 | |
| 页数 | 260页 : 图 ; 23cm | |
| 价格 | CNY35.00 | |
| 标签 | ||
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 | |
书籍简介
本书阐述设计系统芯片(SOC)所需的新的设计、验证和测试方法学,其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片(ASIC)的设计。 本书分两大部分:第一部分为1~5章,是本书方法学的主要内容;第二部分为6,7章,介绍实际的电子设计自动化(EDA)工具和设计环境。第1章简述集成电路的发展,介绍国际半导体技术路线图,以及SOC设计所面临的挑战。第2章阐述SOC设计方法学,包括SOC的模型、设计分层,介绍设计重用和虚拟插座接口技术。第3章阐述SOC/ASIC验证方法学,包括功能验证、等价验证、静态分析验证、物理验证等。第4章阐述SOC/ASIC测试方法学,介绍集成电路测试技术和可测试性设计方法。第5章介绍设计集成电路常用的硬件描述语言及其新发展,包括SystemC,SystemVeri—log,OpenVera等语言。第6章介绍synopsys公司的EDA系统,以及相应的IC设计和验证方法学。第7章给出一个Philips S0C设计平台的实例。
本书主要是面向进入IC设计领域工作的科技人员、相关专业大学生和研究生,以及对高新技术有兴趣、需要更新知识的人群。











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