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名称 | 电子晶体学与图像处理 |
| 索引号 | O721/20091 | |
| 分类号 | O721 O721(晶体对X射线,0电子和中子的衍射理论) O72(X射线晶体学) O(数理科学和化学) |
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| 作者 | 李方华、 | |
| 出版社 | 上海 : 上海科学技术出版社, 2009 | |
| ISBN | 978-7-5323-9226-1 | |
| 页数 | [18], 453页 : 图 ; 25cm | |
| 价格 | 精装 | |
| 标签 | 大陆、材料、科研、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 本书是高分辨电子显微学和图像处理方面的专著,共分三篇,第一篇介绍了运动学和动力学衍射理论、各类电子衍射花样、晶体对称性的会聚束电子衍射测定、晶体结构的衍射分析方法,以及基于动力学电子衍射的晶体结构因子精确测定;第二篇介绍了高分辨电子显微像的成像原理、像衬度及其近似理论、像的理论计算以及借助高分辨电子显微像测定晶体结构的模型法;第三篇简单介绍了高分辨电子显微像的各种图像处理方法,着重于高分辨电子显微学的求逆,包括从显微像求定出射波和从显微像直接求定晶体结构。其中电子晶体学图像处理技术及其在测定晶体结构和缺陷中的应用是第三篇的重点,亦是全书的重点。 本书可作为从事电子晶体学研究和显微图像处理技术方面的研究人员和高等院校师生的参考书。 本书出版受“上海科技专著出版资金”资助 有书目和索引 | |
书籍简介
《电子晶体学与图像处理(科学前沿进展)(精)》是高分辨电子显微学和图像处理方面的专著,共分三篇,第一篇介绍了运动学和动力学衍射理论、各类电子衍射花样、晶体对称性的会聚束电子衍射测定、晶体结构的衍射分析方法,以及基于动力学电子衍射的晶体结构因子精确测定;第二篇介绍了高分辨电子显微像的成像原理、像衬度及其近似理论、像的理论计算以及借助高分辨电子显微像测定晶体结构的模型法;第三篇简单介绍了高分辨电子显微像的各种图像处理方法,着重于高分辨电子显微学的求逆,包括从显微像求定出射波和从显微像直接求定晶体结构。其中电子晶体学图像处理技术及其在测定晶体结构和缺陷中的应用是第三篇的重点,亦是全书的重点。《电子晶体学与图像处理(科学前沿进展)(精)》可作为从事电子晶体学研究和显微图像处理技术方面的研究人员和高等院校师生的参考书。











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