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名称 | 系统芯片SoC的设计与测试 |
| 索引号 | TN430.2/20101 | |
| 分类号 | TN430.2 TN43(半导体集成电路(固体电路)) TN4(微电子学、集成电路(IC)) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 潘中良、 | |
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2009 | |
| ISBN | 978-7-03-025672-0 | |
| 页数 | 323页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY60.00 | |
| 标签 | ||
| 简介 | ||
| 注解 | 本书详细介绍了系统芯片SoC的设计与测试的关键技术和主要方法。内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性等。 有书目 (第313-319页) | |
书籍简介
《系统芯片SoC的设计与测试》内容简介:系统芯片SoC能实现一个系统的功能,它是从整个系统的功能和性能出发,采用软硬结合的设计和验证方法,利用芯核复用及深亚微米技术,在一个芯片上实现复杂的功能。系统芯片具有速度快、集成度高、功耗低等特点。《系统芯片SoC的设计与测试》详细介绍了系统芯片SoC的设计与测试的关键技术和主要方法。全书共15章,内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性、系统芯片的验证、系统芯片的可测性设计、测试调度与测试结构的优化设计、芯核的测试、系统芯片的物理设计、片上网络等。
《系统芯片SoC的设计与测试》可作为电子、通信、计算机、自动控制等学科高年级本科生和研究生的教材,也适合于从事电子信息、数字系统设计、测试和维护等相关专业的研究人员、工程技术人员学习参考。











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