名称 纳米材料的X射线分析
索引号 TB383/201018
分类号 TB383
TB383(特种结构材料)
TB3(工程材料学)
TB(一般工业技术-工业技术)
T(工业技术)
作者 程国峰、杨传铮、黄月鸿、
出版社 北京 : 化学工业出版社, 2010
ISBN 978-7-122-07681-6
页数 291页 : 图 ; 24cm
价格 CNY49.00
标签
简介
注解 有书目 本书内容包括晶体学基础、X射线衍射原理、实验方法、物相定性定量分析、纳米材料微结构的表征、非晶局域结构、小角散射、原子价态的X射线分析以及纳米薄膜等11章。
书籍简介

《纳米材料的X射线分析》是介绍用X射线激发样品,由于入射线与材料中原子的交互作用,从而发出各种各样的信号,通过探测器接收处理这些信号从而获得有关纳米材料结构、成分、原子价态等信息的专著。考虑到与一般材料相比纳米材料和介孔材料的特殊性,《纳米材料的X射线分析》主要包括晶体学基础、X射线衍射原理、实验方法、物相定性定量分析、纳米材料微结构的表征、非晶局域结构、小角散射、原子价态的X射线分析以及纳米薄膜、介孔材料的X射线表征等内容。
《纳米材料的X射线分析》可供从事纳米材料研制、生产和应用的研究人员和工程技术人员,以及高等院校相关专业的教师、学生阅读,也可供从事X射线衍射和散射等分析的专业技术人员参阅。