![]() |
名称 | 纳米材料的X射线分析 |
| 索引号 | TB383/201018 | |
| 分类号 | TB383 TB383(特种结构材料) TB3(工程材料学) TB(一般工业技术-工业技术) T(工业技术) |
|
| 作者 | 程国峰、杨传铮、黄月鸿、 | |
| 出版社 | 北京 : 化学工业出版社, 2010 | |
| ISBN | 978-7-122-07681-6 | |
| 页数 | 291页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY49.00 | |
| 标签 | ||
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 本书内容包括晶体学基础、X射线衍射原理、实验方法、物相定性定量分析、纳米材料微结构的表征、非晶局域结构、小角散射、原子价态的X射线分析以及纳米薄膜等11章。 | |
书籍简介
《纳米材料的X射线分析》是介绍用X射线激发样品,由于入射线与材料中原子的交互作用,从而发出各种各样的信号,通过探测器接收处理这些信号从而获得有关纳米材料结构、成分、原子价态等信息的专著。考虑到与一般材料相比纳米材料和介孔材料的特殊性,《纳米材料的X射线分析》主要包括晶体学基础、X射线衍射原理、实验方法、物相定性定量分析、纳米材料微结构的表征、非晶局域结构、小角散射、原子价态的X射线分析以及纳米薄膜、介孔材料的X射线表征等内容。
《纳米材料的X射线分析》可供从事纳米材料研制、生产和应用的研究人员和工程技术人员,以及高等院校相关专业的教师、学生阅读,也可供从事X射线衍射和散射等分析的专业技术人员参阅。











粤公网安备 44030602003680号