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名称 | 数字集成电路设计验证 : 量化评估、激励生成、形式化验证 |
| 索引号 | TN431.2/20102 | |
| 分类号 | TN431.2 TN431.2(数字集成电路、逻辑集成电路) TN431(双极型) TN43(半导体集成电路(固体电路)) TN4(微电子学、集成电路(IC)) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 李晓维、 | |
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2010 | |
| ISBN | 978-7-03-027609-4 | |
| 页数 | xii, 411页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY58.00 | |
| 标签 | ic、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目和索引 | |
书籍简介
《数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证》内容涉及数字集成电路设计验证的三个主要方面:量化评估、激励生成和形式化验证。主要包括寄存器传输级(RTL)电路建模、基于可观测性的覆盖率评估方法、设计错误模型;基于故障模型的激励生成、基于RTL行为模型的激励生成、覆盖率驱动的激励生成;基于可满足性的等价性检验、包含黑盒电路的形式化验证,以及不可满足问题。
全书图文并茂,阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论,对致力于数字集成电路设计验证方法研究的科研人员(尤其是在读研究生),具有较大的学术参考价值,也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。











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