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名称 数字集成电路设计验证 : 量化评估、激励生成、形式化验证
索引号 TN431.2/20102
分类号 TN431.2
TN431.2(数字集成电路、逻辑集成电路)
TN431(双极型)
TN43(半导体集成电路(固体电路))
TN4(微电子学、集成电路(IC))
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 李晓维、
出版社 北京 : 科学出版社, 2010
ISBN 978-7-03-027609-4
页数 xii, 411页 : 图 ; 24cm
价格 CNY58.00
标签 ic、
简介
注解 有书目和索引
书籍简介

《数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证》内容涉及数字集成电路设计验证的三个主要方面:量化评估、激励生成和形式化验证。主要包括寄存器传输级(RTL)电路建模、基于可观测性的覆盖率评估方法、设计错误模型;基于故障模型的激励生成、基于RTL行为模型的激励生成、覆盖率驱动的激励生成;基于可满足性的等价性检验、包含黑盒电路的形式化验证,以及不可满足问题。
全书图文并茂,阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论,对致力于数字集成电路设计验证方法研究的科研人员(尤其是在读研究生),具有较大的学术参考价值,也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。