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名称 以可靠性为中心的质量设计、分析和控制
索引号 TN606/20111
分类号 TN606
TN606(测试、调整及设备)
TN60(一般性问题)
TN6(电子元件、组件)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 张增照、
出版社 北京 : 电子工业出版社, 2010
ISBN 978-7-121-11069-6
页数 408页 : 图 ; 26cm
价格 CNY59.80
标签 可靠性、relays、work、中国、
简介
注解 有书目 (第407-408页) 本书主要介绍了以可靠性为中心的质量设计、分析和控制理论、方法与技术,并列举了大量案例。全书共分5篇,33章。第一篇导引篇主要论述了为什么要以可靠性为中心;第二篇可靠性基础篇,包括可靠性指标、模型、预计、分配、FMEA和FTA等:第三篇可靠性设计篇,包括元器件选用、降额、容差与漂移设计、冗余设计、电路简化设计、潜在通路、“三防”、热设计和静电防护等12项内容:第四篇管理控制篇主要介绍可靠性的控制管理,包括供应商的控制、元器件质量控制、统计过程控制、质量闭环控制和可靠性评审等;第五篇试验评价篇,包括可靠性测定试验、鉴定与验收试验、筛选试验、增长试验、 HALT/HASS及加速寿命试验。 电子产品设计和生产的相关人员、一线的工程技术人员和管理人员、高校教师和研究生及相关读者。
书籍简介

《以可靠性为中心的质量设计、分析和控制》主要介绍了以可靠性为中心的质量设计、分析和控制理论、方法与技术,并列举了大量案例。全书共分5篇,33章。第一篇导引篇主要论述了为什么要以可靠性为中心;第二篇可靠性基础篇,包括可靠性指标、模型、预计、分配、FMEA和FTA等;第三篇可靠性设计篇,包括元器件选用、降额、容差与漂移设计、冗余设计、电路简化设计、潜在通路、“三防”、热设计和静电防护等12项内容;第四篇管理控制篇主要介绍可靠性的控制管理,包括供应商的控制、元器件质量控制、统计过程控制、质量闭环控制和可靠性评审等;第五篇试验评价篇,包括可靠性测定试验、鉴定与验收试验、筛选试验、增长试验、HALT/HASS及加速寿命试验。
《以可靠性为中心的质量设计、分析和控制》适用于电子产品设计和生产的相关人员,特别是一线的工程技术人员和管理人员,也可供高校教师和研究生参考,或作为培训教材使用。