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名称 程序设计缺陷分析与实践
索引号 TP311.11/20115
分类号 TP311.11
TP311.11(程序设计方法)
TP311.1(程序设计)
TP311(程序设计、软件工程)
TP31(计算机软件)
TP3(计算技术、计算机技术)
TP(自动化技术计算技术技术)
T(工业技术)
作者 尹浩、于秀山、
出版社 北京 : 电子工业出版社, 2011
ISBN 978-7-121-12969-8
页数 268页 : 图 ; 24cm
价格 CNY36.00
标签 软件测试、
简介
注解 有书目 (第267-268页) 代码缺陷源自程序设计,本书结合作者多年软件测试经验,重点归纳总结了C/C++和Java语言在程序设计方面存在的鲜为人知的各种缺陷,以期为软件设计人员和测试人员提供有益借鉴。全书共5章2个附录,分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。重点介绍了C/C++语言程序在编码风格、内存管理、缓冲区使用、指针以及安全等方面存在的典型缺陷,并结合实例对每种缺陷进行了分析,同时给出了缺陷修改方法。
书籍简介

《程序设计缺陷分析与实践》共5章2个附录,分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C抖语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。重点介绍了C/C什语言程序在编码风格、内存管理、缓冲区使用、指针以及安全等方面存在的典型缺陷,并结合实例对每种缺陷进行了分析,同时给出了缺陷修改方法。代码缺陷源自程序设计,《程序设计缺陷分析与实践》结合作者多年软件测试经验,重点归纳总结了C/C++和Java语言在程序设计方面存在的鲜为人知的各种缺陷,以期为软件设计人员和测试人员提供有益借鉴。
《程序设计缺陷分析与实践》既是一本程序设计方面的高级教程,同时也是一本软件静态测试方面的教程,可作为高等院校计算机相关专业高级程序设计及软件测试课程教材,也可供软件开发工程师、测试工程师、测试经理等人员参阅。