大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 半导体光电器件 » 光电子器件微波封装和测试
名称 光电子器件微波封装和测试
索引号 TN36/20081.2
分类号 TN36
TN36(半导体光电器件)
TN3(半导体技术)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 祝宁华、
出版社 北京 : 科学出版社, 2011
ISBN 978-7-03-033004-8
页数 xvii, 433页 : 图 ; 24cm
价格 精装
标签 科学、
简介
注解 本书初版于2007年 有书目和索引 本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
书籍简介

《光电子器件微波封装和测试(第2版)》总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果,系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术,先进性、学术性和实用性兼备,全书共12章,内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法,数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法,光电子器件本征响应特性分析和应用,光谱与频谱分析技术,光注入技术及其应用。
《光电子器件微波封装和测试(第2版)》适合从事光电子器件教学与研究的科研工作者、工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和参考。