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名称 | 微米纳米器件测试技术 |
| 索引号 | TN4/20131 | |
| 分类号 | TN4 TN4(微电子学、集成电路(IC)) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 张文栋、 | |
| 出版社 | 北京 : 国防工业出版社, 2012 | |
| ISBN | 978-7-118-07897-8 | |
| 页数 | 259页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY88.00 | |
| 标签 | ||
| 简介 | ||
| 注解 | 国家科学技术学术著作出版基金资助出版 总装备部国防科技图书出版基金资助 有书目 本书主要内容有微纳测试技术概述、微纳几何量测试技术、微纳动态测试技术、微纳力学量测试技术、MEMS在线测试技术、典型微纳器件测试技术等。 | |
书籍简介
《微米纳米器件测试技术》系统介绍了微米纳米结构和器件的几何量、形貌测试表征方法以及微米纳米器件的动态特性、在线测试方法等,将一些最新观点、最新成果涵盖其中。《微米纳米器件测试技术》可作为仪器科学与技术学科以及相关学科专业研究生的基础课程讲义,主要目的是使学生对微米纳米器件测试技术的基本知识有一个比较系统、全面的了解和认识,培养他们对微米纳米相关学科的兴趣,为初学者提供一个微米纳米器件测试理论学习的平台。











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