大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » | 08 环境公报 » Physical Principles of Electron Microscopy [electronic resource] : An Introduction to TEM, SEM, and AEM
| 名称 | Physical Principles of Electron Microscopy [electronic resource] : An Introduction to TEM, SEM, and AEM | |
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| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | Egerton、 Ray F.、SpringerLink (Online service)、 | |
| 出版社 | Boston, MA : Springer US : Imprint: Springer, 2005. | |
| ISBN | ||
| 页数 | XII, 202 p. 122 illus. digital. | |
| 价格 | doi | |
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| 简介 | ||
| 注解 | ||










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