大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » | 08 环境公报 » Scanning Probe Microscopy [electronic resource] : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
名称 Scanning Probe Microscopy [electronic resource] : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
索引号
分类号
(| 08 环境公报)
作者 Foster、 Adam.、Hofer、 Werner.、SpringerLink (Online service)、
出版社 New York, NY : Springer New York, 2006.
ISBN
页数 XIV, 281 p. 116 illus. digital.
价格 doi
标签
简介
注解