大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » | 08 环境公报 » Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching [electronic resource] : Application to Rough and Natural Surfaces
| 名称 | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching [electronic resource] : Application to Rough and Natural Surfaces | |
| 索引号 | ||
| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | Kaupp、 Gerd.、SpringerLink (Online service)、 | |
| 出版社 | Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2006. | |
| ISBN | ||
| 页数 | XII, 292 p. 239 illus. digital. | |
| 价格 | doi | |
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| 简介 | ||
| 注解 | ||










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