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名称 | 专利测度与评价指标体系研究 |
| 索引号 | G306.3/20138 | |
| 分类号 | G306.3 G306.3(制度与管理) G306(专利研究) G30(科学研究理论) G3(科学、科学研究) G(文化、科学、教育、体育) |
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| 作者 | 叶春明、刘长平、 | |
| 出版社 | 北京 : 知识产权出版社, 2013 | |
| ISBN | 978-7-5130-1893-7 | |
| 页数 | 231页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY35.00 | |
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| 简介 | ||
| 注解 | 本书得到上海市哲学社会科学规划项目“专利测度与评价指标体系研究”(2008BJB36)、上海市知识产权局软科学研究项目“上海知识产权评价指标体系研究”(FZ0603)、上海市一流学科建设项目“管理科学与工程”(S1201YLXK) 资助。 有书目 (第220-225页) 本书在对专利测度与专利评价的理论研究基础上,对比分析了发达国家以及我国现有的专利评价指标体系,依据评价指标体系设计原则,结合技术创新的发展趋势,构建出包含区域、高校(研究所)、企业不同层次的专利综合评价指标体系、专利保护水平评价指标体系和基于证券化的专利价值评估指标体系,并利用基于集成各种评价模型的综合评价方法,对选取的不同行业的样4F01}业或高校进行技术创新与专利评价的实证分析。 | |











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