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名称 微电子技术的可靠性 : 互连、器件及系统 : interconnects, devices and systems
索引号 TN4/20137
分类号 TN4
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 刘建影、郭福、马立民、
出版社 北京 : 科学出版社, 2013
ISBN 978-7-03-037606-0
页数 xi, 179页 : 图 ; 25cm
价格 精装
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简介
注解 责任者汉译名: 刘建影 有书目 本书介绍了电子互连系统中可靠性的诸多基础科学问题及测试和解决方案，书中首先描述了微电子技术可靠性问题的重要性和定义，然后分别从经验模型、物理模型以及失效的一般机制讨论了系统失效的方式和测试方法，之后又分别从可靠性设计、元件和系统级可靠性的角度阐述了能够影响微系统互连失效的相关因素，最后以质量管理为立足点介绍了保障高可靠性产品所涉及的基本环节。