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名称 X射线衍射测试分析基础教程
索引号 O657.39/20141
分类号 O657.39
O657.39(其他光学法)
O657.3(光化学分析法(光谱分析法))
O657(仪器分析法(物理及物理化学分析法))
O65(分析化学)
O6(化学)
O(数理科学和化学)
作者 徐勇、范小红、
出版社 北京 : 化学工业出版社, 2014
ISBN 978-7-122-18550-1
页数 173页 : 图 ; 26cm
价格 CNY29.00
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简介
注解 “十二五”普通高等教育本科规划教材 有书目 本书在简单介绍X射线衍射分析原理的基础上, 重点介绍X射线衍射分析法在材料研究方面的应用。主要包括晶体学基础与X射线运动学衍射原理 ; 现代X射线衍射仪测试原理 ; X射线衍射仪测量方法与分析技术 ; X射线衍射谱线分析与应用 ; X射线衍射物相分析 ; 晶体点阵常数精确测定 ; 宏观内应力测定 ; 织构测定与单晶定向 ; Rietveld方法简介。