| 名称 | 半导体化合物光电器件检测 | |
| 索引号 | TN360.7/20141 | |
| 分类号 | TN360.7 TN36(半导体光电器件) TN3(半导体技术) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 许并社、 | |
| 出版社 | 北京 : 化学工业出版社, 2013 | |
| ISBN | 978-7-122-18947-9 | |
| 页数 | 258页 : 图 ; 26cm | |
| 价格 | CNY49.00 | |
| 标签 | ||
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 本书内容包括: 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜、薄膜X射线衍射、光致发光和电至发光、霍尔效应等。 普通高等教育“十二五”规划教材 | |










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