大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 其他分析(分类号：O656.9)(共1本)
分类依据：总体分析、微区分析,表面分析、逐层分析等入此 | |||
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表面分析 (XPS和AES) 引论 / 原著 (英) John F. Watts, John Wolstenholme0索取号：O656.9/20081 作者：沃茨、沃斯滕霍姆、吴正龙、 出版社：上海 : 华东理工大学出版社, 2008 | ||
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