大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 高电压下测量各种参数的方法及设备(分类号：TM835.4)(共1本)
分类依据：测量介质损失、电场分布、接地电场等方法及设备入此。 | |||
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绝缘结构电场分析有限元法与应用0索取号：TM835.4/20121 作者：郑殿春、 出版社：北京 : 科学出版社, 2012 | ||
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