大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 电气测量技术及仪器(分类号：TM93)(共114本)

分类依据：电子测量入此。 高电压测量技术入TM835。参见TB97。

机电测试技术

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索取号：TM93/20073
作者：赵树忠、
出版社：北京 : 机械工业出版社, 2005

从零开始学电子测量技术

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索取号：TM93/20074
作者：刘建清、刘汉文、寻立波、鲁金、
出版社：北京 : 国防工业出版社, 2006

电子仪器手册

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索取号：TM93/20072
作者：库姆斯、张伦、王晦光、黎安尧、
出版社：北京 : 科学出版社, 2006

通用电工电子仪表使用实训

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索取号：TM93/20076
作者：杨承毅、刘军、李忠国、江华圣、刘起义、
出版社：北京 : 人民邮电出版社, 2007

万用表检测应用实例

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索取号：TM938.101.2/20071
作者：韩广兴、张志万、韩雪涛、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2007

新型数字万用表原理与应用

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索取号：TM938.1/20071
作者：沙占友、
出版社：北京 : 机械工业出版社, 2006

电能计量装置故障接线分析模拟与检测

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索取号：TM933.4/20072
作者：康广庸、
出版社：北京 : 中国水利水电出版社, 2007

Handbook of remote sensing techniques : a survey

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索取号：TM93-62/E803
作者：E.M.I. Electronics Ltd.、Great Britain. Dept. of Trade and Industry.、
出版社：[Farnborough : printed by the Royal Aircraft Establishment for the Department of Trade ; Orpington : distributed by the Technology Reports Centre], 1973, 1972.

Basic instrumentation lecture notes and study guide : measurement fundamentals

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索取号：TM93-62/E804.2
作者：
出版社：Pittsburgh : Instrument Society of America, c1976.

IEEE standard digital interface for programmable instrumentation

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索取号：TM933-63/E801
作者：Institute of Electrical and Electronics Engineers. Instrumentation and Measurements Group.、American National Standards Institute.、
出版社：New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1975.

Applied electronic instrumentation and measurement

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索取号：TM93/E991
作者：Buchla、 David.、McLachlan、 Wayne.、
出版社：New York : Merrill ; Toronto : Collier Macmillan Canada ; New York : Maxwell Macmillan International Pub. Group, c1992.

Elements of electronic instrumentation and measurement

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索取号：TM93/E803
作者：Carr、 Joseph J.、
出版社：Reston, Va. : Reston Pub. Co., 1979.

Electronic instrumentation and measurement techniques

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索取号：TM93/E804.2
作者：Cooper、 William David.、
出版社：Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, 1978.

Electronic systems and instrumentation

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索取号：TM93/E802
作者：Henry、 Richard W. (Richard Warfield)、 1932-、
出版社：New York : Wiley, 1978.

Testing for the 80's : digest of papers, 1980 Test Conference, November 11, 12, 13, 1980

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索取号：TM93-53/E902/11
作者：Test Conference (11th : 1980 : Philadelphia、 Pa.)、IEEE Computer Society. Test Technology Committee.、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.、
出版社：New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Long Beach, Calif. : available from IEEE Computer Society Publications Office, 1980.

Quality productivity profit : digest of papers : 1982 International Test Conference, November 15-18, 1982

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索取号：TM93-53/E901/1982
作者：International Test Conference (1982)、IEEE Computer Society. Test Technology Committee.、International Test Foundation.、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Philadelphia Section.、
出版社：Silver Spring, MD (1109 Spring St., Suite 300) : IEEE Computer Society Press, 1982.