大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 测量和检验(分类号：TN307)(共2本)

Semiconductor measurement technology : a bibliography of NBS publications for the years 1962-1986

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索取号：TN307-7/E901
作者：
出版社：[Washington, D.C.] : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards ; [Springfield, VA. : Order from National Technical Information Service], 1987.

Semiconductor measurements and instrumentation

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索取号：TN307/E801
作者：Runyan、 W. R.、
出版社：New York : McGraw-Hill, [1975]