大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » (分类号：TN431.207)(共1本)
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数字集成电路测试优化 : 测试压缩、测试功耗优化、测试调度0索取号：TN431.207/20101 作者：李晓维、 出版社：北京 : 科学出版社, 2010 |
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