大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 理论(分类号:TN601)(共2本)

电子元器件使用可靠性保证

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索取号:TN601/20111
作者:付桂翠、
出版社:北京 : 国防工业出版社, 2011

最新半導体素子入門

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索取号:TN601/J901
作者:伊藤糾次、木俣守彦、難波進、
出版社:東京 : 誠文堂新光社, 1971.10