本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第H部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第111部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第1V部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第 V部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC测试。.
本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。
随着电子技术的不断发展，电子系统测试面临越来越大的挑战：研究更精确的故障模型，在高层设计上检查易测试性，在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识，来面对这些挑战。..
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识，讲解设计验证的主要手段，有助于测试的设计检查；研究了如何将测试应用于随机逻辑。存储器， FPGA和微处理器。最后，提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理，并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括：
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。