本书对Bayes小子样方法的理论及在电子系统试验中的应用做了详细介绍和阐述。由于Bayes方法的先进性，对于试验结果解释的合理性及其使用时的易操作性，使得该方法在得到同样的置信度条件下，所需的样本数目大为减少，从而有效地缩短试验周期，大大降低试验消耗，提高试验效率，有着广泛的应用前景。
本书内容新颖，系统性强，理论联系实际，基本反映了近年来电子系统试验技术研究领域的新理论、新方法和新成果，具有较高的学术水平和应用价值。本书可作为事电子系统或电子对抗系统数据处理、试验评估、试验设计以及统计决策领域科技人员的参考书，也可供高等院校本科生和研究生进行相关课题研究或课程学习时参考。