大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 搜索包含 张德骏 的图书(共1本)
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温度对微电子和系统可靠性的影响0索取号：TN4/20093 作者：拉尔、佩希特、哈基姆、贾颖、张德骏、刘汝军、 出版社：北京 : 国防工业出版社, 2008 |
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