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Electron microscopy and analysis

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索取号：TH742/E803
作者：Goodhew、 Peter J.、
出版社：London : Wykeham Publications ; New York : Springer-Verlag, 1975.

EUREM 88 : proceedings of the 9th European Congress on Electron Microscopy held in York, England, 4-9 September 1988

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索取号：TH742-53/E901
作者：European Congress on Electron Microscopy (9th : 1988 : York、 England)、Goodhew、 Peter J.、Dickinson、 Hugh G.、Institute of Physics (Great Britain)、
出版社：Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics, 1988.