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New Rudman's questions and answers on the GRE General (Aptitude) Test

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索取号：H31-44/E998
作者：Rudman、 Jack.、National Learning Corporation (Syosset、 N.Y.)、
出版社：Syosset, N. Y. : National Learning Corporation, 1992.

Low-temperature X-ray diffraction : apparatus and techniques

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索取号：O434.1/E802
作者：Rudman、 Reuben.、
出版社：New York : Plenum Press, c1976.