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2006 IEEE Symposium on Interactive Ray Tracing : Salt Lake City, UT, September 18-20, 2006

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索取号：TP15-532/E20091
作者：IEEE Symposium on Interactive Ray Tracing (2006 : Salt Lake City、 Utah)、Wald、 Ingo.、Parker、 Steven Gregory.、IEEE Computer Society. Technical Committee on Visualization and Graphics.、
出版社：Piscataway, NJ : IEEE : IEEE Computer Society : IEEE VGTC, c2006.

Fundamentals of business statistics / Dennis J. Sweeney, Thomas A. Williams, David R. Anderson = 商务统计

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索取号：F222/E20071.4
作者：Sweeney、 Dennis J.、Anderson、 David Ray、 1941-、Williams、 Thomas Arthur、 1944-、
出版社：北京 : 清华大学出版社, 2006.

Fundamental food microbiology

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索取号：TS201.3/E20032.4
作者：Ray、 Bibek.、Bhunia、 Arun K.、
出版社：Boca Raton : CRC Press, c2008.

The financial system and the economy : principles of money & banking / Maureen Burton, Ray Lombra = 金融学

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索取号：F830.2/E992.4
作者：Burton、 Maureen.、Lombra、 Raymond E.、Qu、 Qiang、Gou、 Dongning、
出版社：北京 : 中国人民大学出版社, 2007.

Managerial accounting

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索取号：F234.3/E906.11
作者：Garrison、 Ray H.、Noreen、 Eric W.、Brewer、 Peter C.、
出版社：Boston : McGraw-Hill/Irwin, c2006.

mental ray应用法技巧精粹

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索取号：TP391.41/200775
作者：韩涌、王瑤、
出版社：北京 : 兵器工业出版社 : 北京科海电子出版社, 2007

Proceedings of the Moscow Cosmic Ray Conference

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索取号：V/P01
作者：International Conference on Cosmic Rays、 Moscow、 1959.、Zhdanov、 GeorgǐИ Borisovich、International Union of Pure and Applied Physics.、
出版社：Moscow : [s.n.], 1960.

Hydrology for engineers

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索取号：TV12/E801.2
作者：Linsley、 Ray K.、Kohler、 Max Adam、 1915- joint author.、Paulhus、 Joseph L. H.、 joint author.、
出版社：New York : McGraw-Hill, [1975].

Methodical programming in COBOL

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索取号：TP31/E9022
作者：Welland、 Ray.、
出版社：London : Pitman, 1983.

Decision tables and computer programming

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索取号：TP31/E9017
作者：Welland、 Ray.、
出版社：London ; Philadelphia : Heyden, 1981.

The structure of lipids by spectroscopic and X-ray techniques : with a chapter on separation techniques including thin layer and gas liquid chromatography

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索取号：Q54/E702
作者：Chapman、 Dennis、 1927-、
出版社：London : Methuen, 1965.

Advances in x-ray analysis : proceedings of the ... annual Conference on Application of X-ray Analysis

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索取号：TG115.22/E701
作者：Conference on Application of X-ray Analysis.、Denver Research Institute.、
出版社：New York : Plenum Press, 1960-c1997.

X-ray microanalysis in the electron microscope

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索取号：O657.35/E802
作者：Chandler、 John A.、
出版社：Amsterdam ; New York : North-Holland Pub. Co., 1977.

Handbook of X-ray analysis of polycrystalline materials

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索取号：O72-62/E701
作者：Mirkin、 L. I. (Lev Iosifovich)、
出版社：New York : Consultants Bureau, 1964.

Data for X-ray analysis

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索取号：O657.314-64/E701.2
作者：
出版社：Eindhoven : N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken, 1963-

Principles of quantitative X-ray fluorescence analysis

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索取号：O657.32/E904
作者：Tertian、 R.、
出版社：London ; Philadelphia : Heyden, c1982.