大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 搜索包含 j-test 的图书(共311本)

J.TEST实用日本语检定考试全真题精解及模拟. A-D级听力试题

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索取号：H369.9/201021
作者：崔崟、黄萍、
出版社：北京 : 北京语言大学出版社, 2009

ERP原理与应用

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索取号：F270.7/201011
作者：陆安生、
出版社：北京 : 清华大学出版社, 2010

A study of the processing tape-mediated EFL speaking test performance

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索取号：H319.9/201083
作者：王海贞、
出版社：上海 : 上海外语教育出版社, 2009

The complete guide to the TOEFL test : writing = 制胜新托福写作

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索取号：H310.41/E20101
作者：Rogers、 Bruce、 1949-、
出版社：Beijing : Foreign Language Teaching and Research Press, 2009.

中华人民共和国海洋行业标准. HY/T125-2009. , 海洋水色光谱仪检测方法. = Test method kf ocean color spectrograph

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索取号：T-652.2/20001/HY/T125-2009
作者：中国 国家海洋局、王小波、
出版社：北京 : 中国标准出版社, 2009

QTP项目应用与进阶

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索取号：TP311.56/20103
作者：风过无息、
出版社：北京 : 化学工业出版社, 2009

Erzeugung von Zufallszahlen : Programmierung und Test auf Digitalrechnern

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索取号：O211.6/G802
作者：Zieliñski、 Ryszard.、
出版社：Leipzig : Fachbuchverl., 1972.

TOEFL (Test of English as a foreign language)

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索取号：H319.3/E8019.2
作者：Moreno、 Harriet N.、Babin、 Edith H.、 joint author.、Cordes、 Carole V.、 joint author.、
出版社：New York : Arco Pub. Co., c1978.

Contemporary's GED : preparation for the high school equivalency examination : test 1, the writing skills test

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索取号：H315-44/E801
作者：Varness、 Nancy.、Dean、 M. Michael.、Van Slyke、 Caren.、Contemporary Books、 inc.、
出版社：Chicago : Contemporary Books, c1976.

Intermediate test papers in English

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索取号：H314/E7041
作者：Mills、 A. E.、
出版社：London : Longman, 1961.

Use of English test papers

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索取号：H319.6/E8013
作者：Land、 Geoffrey.、
出版社：Oxford : Oxford University Press, 1975.

软件生命周期质量保证与测试

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索取号：TP311.52/200912
作者：张向宏、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2009

Building skills for the TOEFL : test of English as a foreign language

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索取号：H31/E9071.2
作者：King、 Carol.、Stanley、 Nancy、 1947-、
出版社：Walton-on-Thames : Nelson, c1989.

软件测试实践 : 成为一个高效能的测试专家

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索取号：TP311.5/200924
作者：布莱克、郭耀、
出版社：北京 : 清华大学出版社, 2008

Basic tips on the Test of English as a foreign language, TOEFL

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索取号：H319.6/E904
作者：Sharpe、 Pamela J.、Barron's Educational Series、 inc.、
出版社：Woodbury, N.J. : Barron's Educational Series, c1982.

Lsi & boards : digest of papers, 1978 Semiconductor Test Conference, October 31, November 1, 2, 1978, held at Cherry Hill, New Jersey

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索取号：TN304.07-53/E801/1978
作者：Semiconductor Test Conference (1978 : Cherry Hill、 Township、 N.J.)、IEEE Computer Society. Test Technology Committee.、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.、
出版社：New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Long Beach, Calif. : available from IEEE Computer Society Publications Office, c1978.