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名称 超大规模集成电路测试 : 数字、存储器和混合信号系统
索引号 TN470.7/20061
分类号 TN470.7
TN47(大规模集成电路、超大规模集成电路)
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 布什内尔、 M. L.、阿格拉瓦尔、 V. D.、蒋安平、冯建华、王新安、
出版社 北京 : 电子工业出版社, 2005
ISBN 7-121-01490-4
页数 16, 511页 : 图 ; 26cm
价格 CNY58.00
标签 ic、集成电路、1、测试、
简介
注解 本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版・ 责任者Bushnell规范汉译姓: 布什内尔; 编目员自译Agrawal汉译姓: 阿格拉瓦尔・ 有书目 (第474-511页) 本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型・第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等・第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等・
书籍简介

《超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统》可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。