大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » (分类号：TN470.7)(共2本)

超大规模集成电路测试

0
索取号：TN470.7/20081
作者：雷绍充、邵志标、梁峰、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2008

超大规模集成电路测试 : 数字、存储器和混合信号系统

0
索取号：TN470.7/20061
作者：布什内尔、 M. L.、阿格拉瓦尔、 V. D.、蒋安平、冯建华、王新安、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2005