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名称 | 电子元器件可靠性设计 |
| 索引号 | TN602/20081 | |
| 分类号 | TN602 TN602(设计、计算) TN60(一般性问题) TN6(电子元件、组件) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | 王蕴辉、于宗光、孙再吉、 | |
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2007 | |
| ISBN | 978-7-03-019638-5 | |
| 页数 | 514页 : 图 ; 24cm | |
| 价格 | CNY49.90 | |
| 标签 | 中国、教材、科学、 | |
| 简介 | ||
| 注解 | 有书目 | |
书籍简介
《电子元器件可靠性设计》是"电子可靠性工程技术实战丛书"之一.《电子元器件可靠性设计》共有9章,内容涉及半导体集成电路、混合电路、分立半导体器件、连接器、继电器、电容器和微特电机等元器件的可靠性设计技术,主要为:可靠性设计与控制基本要求;性能可靠性设计、结构可靠性设计、工艺可靠性设计和可靠性评价试验设计等可靠性设计内容;消除失效模式的可靠性设计、耐环境可靠性设计、性能稳定性设计、耐高温设计、长寿命设计、降额设计、优化设计、防误操作设计、最坏情况设计等可靠性设计技术;可靠性控制主要技术;原材料的选择与质量控制;零部件的选择与质量控制;封装可靠性控制;生产环境控制;可靠性设计和控制应用实例等方面。











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